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簡(jiǎn)介:測(cè)量精度 0.20△E*ab以內(nèi) 顯示內(nèi)容 △E*ab、CIE Lab、△Lab、CIE Lch 測(cè)量范圍 L:0-100 a:-128—127 b:-128—127 測(cè)量時(shí)間 約3秒 測(cè)量間距 約2秒 測(cè)量孔徑 ¢8mm 自動(dòng)關(guān)機(jī) 待機(jī)5分鐘,自動(dòng)關(guān)機(jī) 測(cè)量光源 C光源
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簡(jiǎn)介:高精度高分辨率 準(zhǔn)確度0.5級(jí),最小讀數(shù)達(dá)0.001N; 峰值保持功能 可抓取測(cè)試中的峰值;
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簡(jiǎn)介:1、檢測(cè)半徑:0.2-60mm 2、檢測(cè)精度:-1~1mm 3、檢測(cè)時(shí)間:每個(gè)斷面2~3分鐘 4、檢測(cè)方位角:30度~330度 5、一次測(cè)量記錄斷面數(shù):200個(gè)斷面 6、數(shù)據(jù)傳輸方式:串口RS232
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